布鲁克D8 X射线衍射仪介绍
一、仪器照片
二、根基信息
品牌：布鲁克（Bruker）
型号：D8
仪器类型：多职能X射线衍射仪（XRD）
利用领域：宽泛利用于资料科学、冶金工程、化学化工、地质矿产、生物医药等领域，可实现粉末样品的物相定性与定量分析、晶体结构解析、晶粒尺寸与晶格应变测定、取向度分析等，适配高？蒲谐⑹允摇⒖蒲性核⒅柿考觳饣辜案骼喙ひ灯笠档淖柿媳碚饔胫柿抗芸匦枰 。
三、重要特点
1. 光源机能不变：选取高机能Cu靶X射线源，具备高亮度、高不变性的辐射输出，搭配先进的光学聚焦系统，可有效提升衍射信号强杜纂信噪比，保险弱衍射信号样品的测试精度 。
2. 测角精杜着异：建设高精度θ-2θ联动测角仪，选取密关式设计与精密驱动系统，测角精度高、沉复性好，可实现宽领域、高精度的衍射扫描，满足分歧分辨率需要的测试场景 。
3. 测试职能多样：支持粉末衍射、薄膜衍射、幼角散射等多种丈量模式，可适配分歧状态样品（粉末、块状、薄膜、纤维等）的测试需要，拓展了仪器的利用领域 。
4. 自动化水平高：搭载智能化操作软件与自动样品台，可实现样品自动定位、测试参数自动优化、数据自动采集与分析，大幅降低操作门槛，提升测试效能；同时支持多样品陆续测试，适配批量样品分析需要 。
5. 运维便捷：仪器光学系统与机械结构不变性强，守护周期长，日常运维单一；软件界面敦睦，具备美满的数据处置与汇报生成功能，便于用户急剧实现测试与了局输出 。
四、技术参数
1. X射线源：Cu靶，管电压领域30 kV ~ 60 kV，管电流领域5 mA ~ 80 mA，最大功率4.8 kW；可选配Co、Fe、Mo等其他靶材 。
2. 测角仪参数：θ-2θ扫描模式，2θ扫描领域0° ~ 163°（可扩大至170°），测角精度≤0.0001°，沉复精度≤0.001° 。
3. 扫描速度：0.001°/step ~ 20°/min，支持陆续扫描与步进扫描两种模式，扫描步长可精准调节 。
4. 分辨率：在Cu Kα1线（λ=1.5406 ?）下，2θ=28.7°时，半高宽（FWHM）≤0.1°（尺度样品α-Al?O?） 。
5. 样品台参数：自动样品台，承载样品尺寸最大可达50 mm（直径），支持样品旋转（转速0 ~ 60 rpm），可削减样品取向影响，提升测试均匀性 。
6. 探测器：建设高活络度 scintillation 探测器（或可选配二维探测器），计数率可达10? cps，具备优良的能量分辨能力 。
